für das Fachgebiet "Integrierte Breitband- und Höchstfrequenzschaltungen" in Kooperation mit der Technischen Universität Berlin
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Untersuchungen zur Zuverlässigkeit von BiCMOS-integrierten RF-MEMS Schaltern
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Characterization of Bias Temperature Instability (BTI) - Hot Carrier Injection (HCI) using ultra-fast IV measurements
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